15 0*30 0*1 0 мм Si подложка/однокристаллическая Кремниевая Вафля/двухсторонняя - купить
Специальная цена от 31 443,02 руб. / набор руб.*
Категория товара: Фланцы
История изменения цены
*Внимание! Указанная цена 31 443,02 руб. / набор уже могла изменится, перед тем как купить данный товар перейдите на страницу продавца и проверьте актуальную стоимость.
| Месяц | Мин. | Макс. | Цена |
|---|---|---|---|
| 13.05.2026 | 39933.39 | 40732.0 | 40332.5 руб. |
| 13.04.2026 | 32386.15 | 33034.87 | 32710 руб. |
| 13.03.2026 | 39304.14 | 40090.11 | 39697 руб. |
| 13.02.2026 | 38989.77 | 39769.28 | 39379 руб. |
| 13.01.2026 | 31129.2 | 31752.47 | 31440.5 руб. |
| 13.12.2025 | 38360.85 | 39127.43 | 38743.5 руб. |
| 13.11.2025 | 38046.50 | 38807.2 | 38426.5 руб. |
| 13.10.2025 | 37732.59 | 38487.74 | 38109.5 руб. |
Купить 15 0*30 0*1 0 мм Si подложка/однокристаллическая Кремниевая Вафля/двухсторонняя
ОдинБоковая полировка монокристаллический кремний
Характеристики:
Монокристаллический силиконовый субстрат
1. Длина 15,0 мм, ширина 30,0 мм, толщина 1,0 мм, ОдносторонняяТолщина оксида 300нм.2.Одна сторонаПолированный3,100 штук типа P4.Допинговый элементТP Тип-BМатериал:
Монокристаллический Кремний высокой чистоты, двусторонняя полировка, сопротивление: 0,0001-100Использование:
1. Покрытие PVD/CVD
2. Используется в качестве XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (микроскоп атомной силы), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические тестовые субстраты
3. Носитель экспериментального образца синхротронного излучения
4. Субстрат для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания
5. Полупроводниковая литография и т. д.
Отзывы о 15 0*30 0*1 0 мм Si подложка/однокристаллическая Кремниевая Вафля/двухсторонняя
Здесь вы можете оставить свой отзыв о данном товаре.